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              半导体测试板 > probe card

              probe card

              产品简介

              探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加 到Loadboard上。应用:晶元切割前,透过pc可以测试晶圆品质,避免不良产品产生封装成本。

              应用流程

              关键能力

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